机译:用于分析由于栅极氧化物击穿而导致的电路故障可能性的可扩展方法
机译:对超薄栅氧化物基于硬击穿的可靠性方法学的严格评估
机译:利用充电现象消除栅极氧化物中B模介电击穿失败的方法
机译:分析和优化栅氧化层击穿的可扩展方法
机译:研究栅极氧化层击穿和热电子对CMOS电路性能的影响。
机译:细菌中超氧化物的产生取决于应力和细胞状态:一种门控优化的流式细胞术方法可最大程度地减少荧光染料对ROS的测量伪像
机译:热载流子应力,氧化物击穿和栅极泄漏电流之间的相关性,用于监测等离子体处理对栅极氧化物造成的损坏
机译:重离子击穿过程中栅极氧化物的击穿